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fischer xdlm 237x射線熒光鍍層測厚儀 有三個(gè)型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動(dòng)操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個(gè)電動(dòng)X / Y平臺，當(dāng)打開防護(hù)罩時(shí)，該平臺會自動(dòng)移到裝載位置。

FISCHERSCOPE XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀 是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實(shí)現(xiàn)高計(jì)數(shù)率，這樣就可以進(jìn)行高精度測量。

X射線熒光鍍層測厚儀helmut-fischer xan500 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN500是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及進(jìn)行材料分析。

德國菲希爾鍍層測厚儀xdv-μ-pcb XDV-μ型系列儀器是專為在很微小結(jié)構(gòu)上進(jìn)行高精度鍍層厚度測星和材料分析而設(shè)計(jì)的。該系列儀器均配備用于聚焦X射線束的多毛細(xì)管透鏡, 光斑直徑（ FWHM ）可達(dá)10至60μm。

菲希爾 FISCHERSCOPE X-RAY XDL230 是一款高性能的能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測厚及材料分析儀，專為工業(yè)質(zhì)量控制、材料成分分析和溶液檢測設(shè)計(jì)。

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL230是德國 Helmut Fischer 公司生產(chǎn)的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，專為自動(dòng)化和高精度測量設(shè)計(jì)，適用于各類鍍層厚度測量和材料成分分析。

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菲希爾 XULM240 是一款緊湊、高精度、多功能的 X 射線熒光 (XRF) 鍍層測厚與材料分析儀器，專為微小零件和精細(xì)結(jié)構(gòu)的無損檢測設(shè)計(jì)，廣泛應(yīng)用于電子、電鍍、汽車等行業(yè)的質(zhì)量控制與生產(chǎn)監(jiān)控。

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菲希爾X射線測厚儀XDL230 FISCHER代理，F(xiàn)ISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230 是德國菲希爾 (Helmut Fischer) 公司推出的一款能量色散型 X 射線熒光 (EDXRF) 鍍層測厚及材料分析系統(tǒng)，專為工業(yè)質(zhì)量控制、來料檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控設(shè)計(jì)，采用從上往下的測量方向，便于分析形狀不規(guī)則的樣品。

菲希爾X射線測厚儀FISCHER XDL230，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是德國菲希爾（Fischer）出品的高性能、能量色散型 X 射線熒光（EDXRF）鍍層測厚與材料分析儀，主打手動(dòng) XY 平臺 + 電動(dòng) Z 軸，專為工業(yè)質(zhì)量控制中的高精度、無損檢測設(shè)計(jì)。

菲希爾X射線測厚儀，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL230，菲希爾XUL220，F(xiàn)ISCHER XULM240。菲希爾FISCHER X射線測厚儀

菲希爾FISCHER X射線XULM240，基于 X 射線熒光光譜技術(shù)，X 射線激發(fā)樣品鍍層產(chǎn)生特征熒光，通過檢測熒光強(qiáng)度結(jié)合基本參數(shù)法（FP 法） 計(jì)算鍍層厚度 / 元素成分；全程無損、無需破壞樣品。主打微聚焦測量，特別適合電子接插件、PCB、珠寶鐘表、精密電鍍件等微小結(jié)構(gòu)的檢測。

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