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菲希爾臺(tái)式X射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240信息
點(diǎn)擊次數(shù):46 更新時(shí)間:2026-03-31
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XDL240關(guān)鍵亮點(diǎn)
全自動(dòng)操作:電動(dòng) X/Y 工作臺(tái)與可編程 Z 軸,保護(hù)門開啟即自動(dòng)回位放樣,提升效率。
深腔適配:DCM 距離補(bǔ)償法輕松應(yīng)對 80 mm 深腔樣品,解決常規(guī)測厚難點(diǎn)。
多鍍層與元素:覆蓋 Ti–U,支持多層結(jié)構(gòu)分析,適合復(fù)雜電鍍與功能性鍍層。
高精度與穩(wěn)定:比例探測器配合三檔高壓與可切換濾片,金層 60 秒重復(fù)性優(yōu)于 1%。
可視化定位:內(nèi)置 40–160 倍 CCD 攝像頭 + 激光指針,快速精準(zhǔn)定位測量點(diǎn)。
安全合規(guī):整機(jī)輻射安全聯(lián)鎖,符合德國 R?V 與國際標(biāo)準(zhǔn),使用放心。
典型應(yīng)用
大規(guī)模電鍍件質(zhì)檢、裝飾鉻等超薄鍍層測量;
電子 / 半導(dǎo)體功能性鍍層(如 PCB、連接器);
全自動(dòng)批量測量與電鍍?nèi)芤悍治觥?/p>
選購與使用提示
準(zhǔn)直器可選 ?0.1/0.2 mm 圓形或 0.3×0.05 mm 狹縫,適配微小或特殊結(jié)構(gòu);
搭配 WinFTM® 軟件完成數(shù)據(jù)采集與分析,支持標(biāo)準(zhǔn)報(bào)告與數(shù)據(jù)導(dǎo)出;
工作溫濕度 10–40°C、≤95%(無結(jié)露),存儲(chǔ) 0–50°C,需穩(wěn)定供電與良好接地。

