返回首頁
在線訂單
聯(lián)系我們
產(chǎn)品分類
- 哈納代理
- 哈希代理
- 杭州思看
- 英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
- 德國Fischer菲希爾
- 德國Sensopart森薩帕特
- 德國Elektrophysik EPK
- 德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
- 德國BYK
- 德國馬爾 Mahr
- 德國尼克斯QNix
- 德國馬爾Mahr
- 美國SDI
- 美國FLIR
- 美國Mark-10
- 美國狄夫斯高 Defelsko
- 美國GE
- 美國福祿克Fluke
- 美國API
- 英國易高Elcometer
- 日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
- 日本三豐Mitutoyo
- 瑞士TESA
- 瑞士TRIMOS
- 瑞士博勢 Proceq
- 香港嘉儀CanNeed
- 弗勞恩霍夫
技術(shù)文章
當(dāng)前位置：首頁 > 技術(shù)文章
菲希爾、X射線測厚儀FISCHER XAN500信息
點(diǎn)擊次數(shù)：167 更新時(shí)間：2026-01-13
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500雙功能一體化測量
單次測量同時(shí)獲取涂層厚度與材料成分?jǐn)?shù)據(jù)，無需重復(fù)操作
支持多層涂層(如 ZnNi/Cu/Ni/Cr) 與合金涂層(如鋅鎳合金) 的精確分析
采用菲希爾基本參數(shù)法 (FP 法)，可在無需校準(zhǔn)標(biāo)樣的情況下分析固、液態(tài)樣品
菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN500高精度測量系統(tǒng)
高分辨率硅漂移檢測器 (SDD)，提供分析精度與探測靈敏度，尤其適合超薄鍍層測量
3 點(diǎn)支撐設(shè)計(jì)，確保每次測量時(shí)位置準(zhǔn)確、儀器穩(wěn)定，提升重復(fù)性精度
測量點(diǎn)直徑3 毫米，適合小面積樣品檢測
